问答题
膜厚的量测方法有哪些？
大致上可分为原位量测、离位量测两类原位星测系指镀膜进行中量测，普遍使用在物理气相沉积，如微天平、光学、电阻量......
(↓↓↓ 点击下方‘点击查看答案’看完整答案 ↓↓↓)
问答题 薄膜要有良好的附着力，必须具有哪些基本特性？
问答题 沉积的薄膜有内应力的存在，其来源为何？
问答题 良好的薄膜须具备哪些特性？影响的因素有哪些？
