多项选择题
以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。
A.可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得测试的容易化 B.可测性设计使用自动生成工具（ATPG），易于生成故障覆盖率高的测试模式 C.可测性设计由于增加了设计负荷，将一定导致芯片整体开发成本的增加 D.可观察性与可控制性是衡量可测性设计的两个尺度
多项选择题 以下问题描述中，哪些有可能通过可测性设计发现（）。
多项选择题 以下关于逻辑综合的描述，哪些是正确的（）。
单项选择题 以下描述比较不同抽象度设计的仿真速度，哪些是正确的（）。
